TREMMEL, J.; LARIOT, C. Exámen al microscopio electrónico de los productos de oxidación formados por las impurezas que se encuentran en una muestra de Ni . Revista CENIC Ciencias Químicas, [S. l.], v. 3, n. 1, p. 001-011, 2022. Disponível em: https://revista.cnic.cu/index.php/RevQuim/article/view/3051. Acesso em: 13 jun. 2026.