[1]
C. Morales-Echevarría, E. A. George-de Armas, S. López-Guerra, D. Vega–Torres, y J. A. Alonso-Pérez, «Caracterización de rocas arcillosas sello por microscopía electrónica de barrido y microanálisis de rayos x», Rev. CENIC Cienc. Quím., vol. 46, n.º 1, pp. 9-15, may 2018.